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清洗乾淨了嗎?Φ2.2mm 探頭帶你看見微小孔洞裡的真相

半導體零組件清洗後,外觀看起來乾淨不代表真的乾淨。超細內視鏡深入 2mm 級微小通道,直接驗證清洗品質。

半導體零件清洗:看得到的乾淨不算乾淨

半導體精密零件在超音波清洗槽中清洗
半導體精密零件在超音波清洗槽中清洗——但「看得到的乾淨」不代表「真的乾淨」,微小通道內的殘留物需要超細內視鏡才能確認。

在半導體製程中,每一個零組件的潔淨度都直接影響最終晶圓的良率。從氣體輸送管路、精密閥體、噴嘴組件到反應腔體內部零件,這些元件在維護或更換後必須經過嚴格的清洗流程,確保表面與內部通道不殘留任何可能造成汙染的異物。

然而,現實中的清洗品質驗證一直存在盲區。傳統的檢驗方式通常是目視外觀確認加上沖洗液分析——用肉眼或低倍放大鏡查看零件外表面是否有明顯殘留,再透過最後一道沖洗液的微粒計數來推估內部潔淨度。這套方法對外表面尚可,但對於零件內部的微小通道、彎管接頭、盲孔與深孔結構,基本上處於「看不到、摸不到」的狀態。

問題在於,這些微小內部結構恰恰是殘留物最容易堆積、也最難被沖洗乾淨的地方。清洗液在窄小通道中的流速降低,沖刷力道不足,金屬切削碎屑、化學反應殘留物、甚至微量水漬都可能藏匿在肉眼無法企及的角落裡。

「我們的閥體清洗後外觀看起來都很乾淨,但裝回製程段後偶爾會出現粒子超標的狀況。後來用超細內視鏡逐一檢查,才發現好幾個零件的內部 T 型接頭處都有微小的金屬碎屑殘留。」—— 某半導體設備商品質工程師

殘留物的三大危害

  • 粒子汙染:微小金屬碎屑或化學結晶隨氣流進入製程腔體,直接沉降在晶圓表面,造成圖案缺陷或短路,這是良率殺手級的汙染源。
  • 製程飄移:殘留在管路內壁的化學物質在高溫下緩慢釋放,改變氣體成分比例,導致薄膜厚度或蝕刻深度偏移,製程穩定性惡化。
  • 晶圓報廢:當汙染超過容許標準,整批晶圓可能需要報廢。以先進製程計算,一片晶圓價值可達數千至數萬美元,一個未被發現的殘留點可能造成數十萬元的直接損失。

為什麼需要超細內視鏡?

半導體零組件的內部通道設計,往往受限於氣體流路和散熱需求,管徑普遍落在 3mm 至 10mm 之間。部分精密閥體的內部孔道甚至只有 2-3mm 的直徑,加上 90 度彎頭和 T 型分歧結構,形成了傳統檢測工具完全無法進入的微觀空間。

市面上常見的工業內視鏡探頭直徑多在 4mm 至 6mm 之間。一支 6mm 的探頭,面對 5mm 的管路開口就已經無法插入,更不用說進入管路後在彎頭處轉向觀察了。即使勉強塞進稍大的通道,探頭也會緊貼管壁,既無法轉動也看不到周圍的狀況。

EHX 超細工業內視鏡 Φ2.2mm 探頭
EHX 超細工業內視鏡 —— Φ2.2mm 可彎曲探頭,宇創國際代理

EHX 超細工業內視鏡的 Φ2.2mm 探頭,正是為了解決這個問題而設計。2.2mm 的直徑意味著它可以輕鬆進入 3mm 以上的任何管道,並且在管內保留足夠的活動空間進行彎曲和轉向。

Φ2.2mm 超細探頭
深入 3mm 級微小管道,傳統 4-6mm 探頭無法到達的空間都能進入觀察。
雙向 180° 彎曲
探頭在管內可自由轉向,T 型管路、彎頭和死角都能到達,阻尼鎖定讓觀察更穩定。
720×720 高清畫質
業界同級距最高解析度,微小顆粒和淺層水漬在螢幕上清晰可辨,搭配 8 倍數位放大。
拍照錄影存檔
即拍即存,每張影像自動記錄時間戳記,建立可追溯的品質驗證紀錄。

EHX 2.2mm 的半導體清洗檢查流程

在實際產線上,EHX 2.2mm 超細內視鏡的清洗驗證檢查通常按照以下標準化流程進行,確保每一個零件的內部潔淨度都有據可查:

1
插入探頭
清洗完成並乾燥的零件,從開口處小心插入 Φ2.2mm 探頭。探頭外徑小於大多數通道直徑,不會對零件內壁造成二次汙染或刮傷。
2
逐段掃描
利用雙向彎曲控制探頭方向,配合阻尼鎖定功能,在管路內逐段檢視內壁。重點關注 T 型接頭、彎管內側、盲孔底部等容易殘留異物的死角區域。
3
白平衡校正
在檢查前進行白平衡設定,確保影像色彩準確還原。這一步驟至關重要——唯有色彩正確,金屬碎屑(銀灰色)、化學殘留(淡黃或白色結晶)、水漬(透明薄膜狀)才能被正確辨識,避免漏判。
4
負片模式對比強化
EHX 內建的負片模式將影像色彩反轉,大幅提高微小缺陷與背景之間的對比度。原本在正常影像中幾乎看不到的淺色殘留,在負片模式下會變得非常明顯,特別適合檢查淡色水漬和薄層化學殘留。
5
拍照存檔
每個檢查點拍照或錄影,建立完整的品質紀錄。影像自動帶有時間戳記,可依零件編號建檔管理,作為出貨品質證明或追溯依據。
6
判定與處置
合格零件放行進入製程段;發現殘留的零件標記不合格,退回清洗站重新處理。有了影像佐證,清洗團隊可以精準知道哪個位置需要加強清洗,而不是盲目地重洗整個零件。

720×720 vs 400×400:畫質差異比較

在超細內視鏡的世界裡,畫質決定了你能「看見」多小的問題。目前市面上大部分 2mm 級工業內視鏡的影像感測器解析度為 400×400 像素,約 16 萬像素。這個等級在觀察大型異物時尚可接受,但面對半導體零件清洗驗證這種需要辨識微小顆粒的應用場景,往往力不從心。

EHX 搭載的 720×720 感測器,總像素達到約 51.8 萬像素,是 400×400 的 3.24 倍

比較項目 傳統 2mm 內視鏡 EHX 2.2mm
解析度 400 × 400 px 720 × 720 px
總像素 ~16 萬 ~51.8 萬(3.24×)
彎曲方向 單向或不可彎曲 雙向 180°+阻尼鎖定
數位放大 2-4 倍 8 倍
負片模式 有(對比強化)
白平衡 自動或無 手動 + 自動可選

像素密度提升 3.24 倍,意味著在相同的觀察距離下,EHX 能分辨出更小的顆粒、更細的刮痕、更淺的水漬痕跡。配合 8 倍數位放大功能,操作者等於在管道內部使用一支高倍放大鏡進行逐點檢查。對於半導體清洗驗證來說,這個差距往往就是「找到殘留」和「漏掉殘留」的分界線。

EHX 2.2mm 的核心優勢
3.24×
像素密度提升
180°
雙向彎曲角度
數位放大倍率

模組化設計:一台主機涵蓋多種檢查需求

半導體設備廠和清洗供應商的日常工作中,需要檢查的零件規格不盡相同。有些精密閥體的孔徑只有 2-3mm,有些腔體零件的通道直徑則達到 8-15mm 以上。如果每一種管徑都需要一台專用的內視鏡,不僅設備採購成本高昂,管理和校準也是一大負擔。

EHX 系列採用模組化設計,同一台手持主機可以搭配不同規格的探頭模組:

  • Φ1.8mm 探頭:直徑更細,可進入 2mm 以上的極細管道,但無彎曲功能,適用於直管結構的快速檢查。
  • Φ2.2mm 探頭(雙向彎曲):本文介紹的主力規格,3mm 以上管道均可進入並轉向觀察,是半導體清洗驗證的最佳選擇。
  • Φ6.0mm 探頭:適用於較大管徑的腔體零件,提供更大的視野範圍和更強的照明亮度。

模組更換只需幾秒鐘,不需要工具,探頭與主機之間自動配對校準。一台 EHX 主機加上兩到三支不同規格的探頭模組,即可涵蓋從 2mm 到 15mm 以上的全範圍零件內部檢查需求,大幅降低設備總持有成本。

EHX 超細內視鏡應用於半導體零件檢查
EHX 超細工業內視鏡應用於半導體零件清洗後品質檢查

常見問題

2.2mm 探頭可以彎曲嗎?
可以。EHX 的 Φ2.2mm 探頭支援雙向 180° 彎曲,並具備阻尼鎖定功能,可在管內任意角度固定觀察。這在同級距超細內視鏡中極為少見,大多數 2mm 級探頭只有單向或完全不可彎曲。雙向彎曲讓探頭能在 T 型管路或彎頭處轉向觀察死角,大幅提升檢查覆蓋率。
720×720 跟其他品牌的 2mm 內視鏡比有什麼優勢?
目前市面上 2mm 級工業內視鏡的解析度多半停留在 400×400 像素(約 16 萬像素),EHX 的 720×720 達到約 51.8 萬像素,是傳統機型的 3.24 倍像素密度。實際差異在於:能看到更小的金屬碎屑顆粒、更細微的化學殘留痕跡、以及更淺的水漬紋路。配合內建 8 倍數位放大功能,相當於在管內使用放大鏡檢查,微小缺陷無所遁形。
可以在無塵室使用嗎?
EHX 主機與探頭均採用表面光滑的金屬及工程塑膠材質,可配合無塵布擦拭消毒後攜入無塵室。實際使用時,建議在無塵室外完成零件清洗後,於潔淨工作台或準無塵環境下進行內視鏡檢查,確認清潔度合格後再送入製程段。若需在無塵室內使用,請先確認設備是否符合廠區潔淨度管理規範。
探頭可以承受多高的溫度?
EHX 2.2mm 探頭的工作溫度範圍為 -10°C 至 60°C,適用於常溫環境下的清洗後品質檢查。半導體零件清洗流程通常在室溫或微溫(40-50°C)環境下進行,檢查時零件已回復常溫,因此完全在探頭的耐受範圍內。若零件剛經過高溫烘乾步驟,建議待冷卻至 50°C 以下再插入探頭。
一次充電可以檢查多少個零件?
EHX 搭載可更換鋰電池,單次充電可連續使用約 3-4 小時。以半導體零件清洗後檢查的典型工作流程估算,每個零件的內視鏡檢查時間約 3-8 分鐘(視通道複雜度而定),一次充電大約可完成 25-60 個零件的檢查。電池可快速更換,備用電池到手即可繼續作業,不需等待充電。

想親眼看看 Φ2.2mm 探頭在半導體零件內部的實際影像表現?宇創提供免費的 EHX 現場示範服務,帶著你的零件一起測試,眼見為憑。

了解更多產品資訊:EHX 超細工業內視鏡產品頁

帶著你的零件來,
讓 Φ2.2mm 探頭說話

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